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產品中心

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  • KT-DQTL1常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺

    常溫半導體測試 氣敏測試 大氣探針臺是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備,通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試,從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號,實現更加精確的數據測試測量。

    更新時間:2023-10-18
    產品型號:KT-DQTL1
    瀏覽量:2072
  • KT-DQTL1大氣探針臺 電信號測試

    大氣探針臺 電信號測試是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備,通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試,從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號,實現更加精確的數據測試測量。

    更新時間:2023-10-18
    產品型號:KT-DQTL1
    瀏覽量:1483
  • KT-DQTL1常溫探針臺 電信號測試

    常溫探針臺 電信號測試 是一種用于半導體器件電性能測試的重要設備,通常由精密的機械結構、高性能的探針針頭和電性能測試儀器組成。探針臺可以對半導體芯片、集成電路和其他微電子器件進行直接的電性能測試,從而為研究和生產提供有價值的信息。探針臺主要用于晶圓加工之后、封裝工藝之前的CP測試環節,負責晶圓的輸送與定位,確保從晶圓表面向精密儀器輸送更穩定的信號,實現更加精確的數據測試測量。

    更新時間:2023-10-18
    產品型號:KT-DQTL1
    瀏覽量:1560
  • KT-Z4019MRL4T科研小型氣敏測試真空探針臺

    科研小型氣敏測試真空探針臺,可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

    更新時間:2024-03-29
    產品型號:KT-Z4019MRL4T
    瀏覽量:1652
  • KT-Z4019MRL4T制備LK-99 可選用 微型探針太臺測試材料

    制備LK-99 可選用 微型探針太臺測試材料,可預留接口以備安裝電子閥及流量計之用,充入其它氣體使用,溫度范圍為77.15K至673.15K(-196攝氏度到400攝氏度)

    更新時間:2024-03-29
    產品型號:KT-Z4019MRL4T
    瀏覽量:1629
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